Evidencia de retrabajo en XPS

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Aug 6th, 2022
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Reestructura fácilmente evidencia en XPS para trabajar con documentos en varios formatos

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No puedes hacer que las alteraciones de documentos sean más convenientes que editar tus archivos XPS en la web. Con DocHub, puedes obtener herramientas para editar documentos en PDF rellenables, XPS u otros formatos: resaltar, ocultar o borrar elementos del documento. Agrega texto e imágenes donde los necesites, reescribe tu copia por completo y más. Puedes descargar tu archivo editado a tu dispositivo o enviarlo por correo electrónico o enlace directo. También puedes transformar tus documentos en formularios rellenables y pedir a otros que los completen. DocHub incluso ofrece una eFirma que te permite certificar y enviar documentos para firmar con solo un par de clics.

Cómo reestructurar evidencia en un archivo XPS usando DocHub:

  1. Inicia sesión en tu perfil.
  2. Sube tu archivo a DocHub haciendo clic en Nuevo Documento.
  3. Abre tu archivo subido en nuestro editor y reestructura la evidencia en XPS usando nuestras herramientas de arrastrar y soltar.
  4. Haz clic en Descargar/Exportar y guarda tu XPS en tu dispositivo o almacenamiento en la nube.

Tus registros se mantienen de forma segura en nuestra nube de DocHub, por lo que puedes acceder a ellos en cualquier momento desde tu computadora de escritorio, laptop, teléfono inteligente o tableta. Si prefieres usar tu teléfono móvil para editar archivos, puedes hacerlo fácilmente con la aplicación móvil de DocHub para iOS o Android.

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Cómo hacer evidencia de retrabajo en XPS

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hola, mi nombre es jeff schalleberger y voy a hablarles un poco sobre una técnica llamada espectroscopia de fotoelectrones de rayos X o XPS. uh, ofrecemos esto aquí en el laboratorio de caracterización de materiales en penn state. uh, también puede haber escuchado el término ESCA, que es exactamente la misma técnica, significa espectroscopia electrónica para análisis químico. XPS es, de lejos, el término más comúnmente utilizado, ese es el que usaré a lo largo de mi presentación aquí. XPS se basa en el efecto fotoeléctrico. el efecto fotoeléctrico es que iluminamos una muestra sólida y, en nuestro caso, esa luz en forma de rayos X de baja energía, expulsa electrones que estaban originalmente ligados a los átomos en el material, y los expulsamos al vacío y, en última instancia, medimos estos con un espectrómetro. la ecuación que describe el efecto fotoeléctrico se muestra aquí, una ecuación muy simple. esto es en realidad por lo que albert einstein ganó su premio nobel en 1921 por algún trabajo que él d

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Efectos de carga en la espectroscopía de fotoelectrones de rayos X Cuando los fotones de rayos X golpean una superficie, causan la emisión de electrones. Esto, por supuesto, es la base de la técnica XPS. Si la superficie es eléctricamente aislante, entonces la emisión de electrones provoca que se acumule una carga positiva en la superficie.
La corrección de carga se determina en función de los parámetros del horno, el peso real del horno y la aleación, si se necesita (y es posible) la corrección. El operador aún tiene la posibilidad de ajustar la propuesta.
En los espectros de XPS de materiales, todas las energías de enlace deben corregirse utilizando un estándar. Por lo general, se utiliza el elemento carbono con una energía de enlace de C 1s = 284.6 eV como estándar interno. Debe desplazar las energías de enlace de sus muestras en función de este valor.
La causa principal del desplazamiento del pico en los espectros de XPS está relacionada principalmente con los desplazamientos químicos debido a la presencia o ausencia de los estados químicos del elemento que tiene diferentes estados de oxidación formal. Y la intensidad también puede cambiar porque está directamente relacionada con el número de átomos en el respectivo estado químico.
Tanto el hidrógeno como el helio no se pueden detectar utilizando XPS. Por esta razón, XPS solo puede proporcionar relaciones relativas, en lugar de absolutas, de los elementos en una muestra.
Debido a que XPS es una técnica de superficie, hay una cantidad limitada de información orgánica que XPS puede proporcionar. XPS está limitada a mediciones de elementos con números atómicos de 3 o mayores, lo que hace que no pueda detectar hidrógeno o helio. Los espectros de XPS también tardan mucho tiempo en obtenerse.
Los picos se desplazan hacia el lado de mayor energía de enlace. Este efecto de carga debe corregirse. Normalmente, para una carga baja, se referencia la carga por C1s a 284.8 eV y se desplaza todo el espectro en consecuencia. La corrección de carga se realiza mediante una fuente de inundación de electrones suministrando electrones de baja energía externamente.
1:26 2:35 Vamos a ajustar los componentes de las regiones y vamos a aplicar a la selección. Así que eso debería conseguir más. Vamos a ajustar los componentes de las regiones y vamos a aplicar a la selección. Así que eso debería conseguir que todo esto esté encendido. Y vamos a presionar aplicar.
por lo tanto, el pico de energía de enlace se desplaza positivamente. Inversamente, si la electronegatividad del elemento dopante es menor que la del elemento base, la densidad electrónica a su alrededor aumenta y la energía de enlace disminuye, lo que lleva a un desplazamiento rojo en la posición del pico de BE.
Los desplazamientos en el pico de XPS están relacionados con su estado de oxidación y un mayor desplazamiento en la energía de enlace corresponde a un estado de oxidación más alto. A veces, un mayor desplazamiento con un pico de ruido está relacionado con el pico satélite o el efecto de sacudida y es un caso solo para algunos metales o su óxido, por ejemplo, Ni o NiO.

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