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la electrónica física se complace en presentar una nueva función de software XPS llamada registro de imágenes este complemento opcional de smartsoft que anteriormente solo estaba disponible para la espectroscopía de Oamp;#39;Jays mejora enormemente el análisis de xbs de área pequeña el registro de imágenes se acopla con la capacidad única de imagen de rayos X SX I de Phiamp;#39; para garantizar que el análisis XPS se realice en la ubicación precisa de interés incluso para características muy pequeñas en esta demostración el registro de imágenes se utilizará durante el análisis de tres muestras diferentes un pad de oblea metalizado una bola de soldadura y una partícula de carbonato de manganeso al igual que con el análisis típico de área pequeña se genera un SX I para cada característica y se seleccionan el punto o puntos de interés esta imagen SX I puede luego ser designada como una imagen de referencia para el registro de imágenes durante la configuración del registro de imágenes se definen dos áreas una característica distinta y un área de búsqueda la característica distinta se utilizará para ajustar la posición del haz de rayos X a la ubicación correcta aft
