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la cuantificación por XPS se informa típicamente como una tabla de cuantificación que involucra concentraciones atómicas de esta tabla también podemos calcular fórmulas que indican las cantidades relativas del material y todas estas se calculan en este caso a partir de un conjunto de regiones de cuantificación aplicadas al oxígeno, al silicio y al carbono con el resultado que vemos para esta sílice fundida sio2 relación entre silicio y oxígeno y luego además tenemos alguna contaminación en forma de carbono las concentraciones atómicas se calculan a partir de regiones y estas regiones definen el fondo para cada uno de estos picos de fotoemisión y el área del pico por encima del fondo se integra luego para cada uno de estos picos hay factores de escalado que deben aplicarse para que podamos medir la cantidad de sustancia basada en un pico de fotoemisión y el tema de este video es observar estos varios factores de corrección e ilustrar cómo se aplican a estos datos para producir una cuantificación que hace s
