Por lo general, es difícil encontrar una plataforma que pueda cubrir todas tus demandas corporativas o que te proporcione herramientas adecuadas para controlar la generación y aprobación de documentos. Elegir una aplicación o plataforma que combine herramientas esenciales de generación de documentos que optimicen cualquier tarea que tengas en mente es crucial. Aunque el formato más utilizado para trabajar es PDF, necesitas una plataforma integral para manejar cualquier formato disponible, incluyendo XPS.
DocHub asegura que todos tus requisitos de generación de documentos estén atendidos. Edita, firma electrónicamente, rota y combina tus páginas según tus necesidades con un clic del ratón. Maneja todos los formatos, incluyendo XPS, con éxito y . Independientemente del formato con el que comiences a trabajar, es posible cambiarlo a un formato requerido. Ahorra mucho tiempo solicitando o buscando el tipo de documento adecuado.
Con DocHub, no necesitas tiempo adicional para familiarizarte con nuestra interfaz y proceso de modificación. DocHub es, sin duda, un software fácil de usar y amigable para cualquier persona, incluso para aquellos sin antecedentes técnicos. Integra a tu equipo y departamentos y mejora la gestión de documentos para tu organización para siempre. únete a la muestra en XPS, crea formularios rellenables, firma electrónicamente tus documentos y completa procesos con DocHub.
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hola y bienvenidos a esta presentación sobre la preparación y montaje de manejo de muestras para xps y otros métodos de análisis de superficie y quiero agradecer primero a los organizadores por invitarme a hablar en este taller esta charla se basa principalmente en dos referencias que son parte de una colección de ciencia y tecnología del vacío interno y este conjunto particular se referencia como pueden ver con esta notación aquí y la idea es ayudar a educar a las personas con respecto a varios aspectos de xps y prevenir problemas con información errónea que ha salido de la literatura el primer artículo es un artículo sobre técnicas de preparación y montaje de muestras y los otros autores son roberto garcía de nc state jeff schallenberger de la universidad estatal de penn john newman de electrónica física y kerry donnelly de la universidad de carolina del norte el otro artículo fue elaborado por carrie donnelly y yo y es una introducción a xps ¿por qué estamos haciendo esta charla? bueno, el análisis de superficie requiere superficies que no hayan sido comprometidas